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The evolution of microstructure and electrical performance in doped Mn-Co and Cu-Mn oxide layers with the extended oxidation time

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  • P.Y. Guo, H. Sun, Y. Shao, J.T. Ding, J.C. Li, M.R. Huang, S.Y. Mao, Y.X. Wang, J.F. Zhang, R.C. Long, X.H. Hou, The evolution of microstructure and electrical performance in doped Mn-Co and Cu-Mn oxide layers with the extended oxidation time, Corrosion Science, 172 (2020) 108738.